Mätning av beläggningstjocklek på CFRP och andra underlag

The quick & easy way of non-destructive measurements for coating thickness
FSC1/7 & FSC1000
The quick & easy way of non-destructive measurements for coating thickness

FSC är ett icke-destruktivt mätinstrument för snabb tjockleksmätning av färg och andra elektriskt isolerande skikt på substrat som kolfiberförstärkt plast (CFRP), CFRP med metalliskt blixtskydd och metaller. Den mobila enheten består av en sensor och en styrenhet för drift- och visningsändamål. Systemet fungerar på ett icke-destruktivt sätt genom användning av mikrovågor i ISM-bandet utan att något kopplingsmedium krävs. FSC används bland annat inom flygindustrin och är certifierad för användning av kända flygplanstillverkare.

Detaljer
  • Snabb och enkel mätning av beläggningstjocklek
  • Icke-destruktiv princip - inget inflytande på färger och underlag
  • Inget kopplingsmedium krävs
  • Konfigurerbart, dynamiskt lutningsskydd
  • Statistiska funktioner
  • Exportera mätdata till USB-minne
  • Kvalificerad av kända flygplanstillverkare
FSC1-7-2_400px

FSC1/7 används för att bestämma beläggningstjockleken på CFRP och andra substrat och har ett mätområde på 500 µm. Till skillnad från andra mätprocedurer krävs ingen minsta tjocklek som gör det möjligt att påvisa även låga skikttjocklekar på ett tillförlitligt sätt. Mätningen varar bara i ca. 1 sekund. Leveransomfattningen inkluderar referensfilmer med känd tjocklek baserat på vilka mätobjektet kan kalibreras. Kalibreringsdata kan lagras och laddas när som helst. Mätningen kan exporteras via en USB-anslutning för extern vidarebearbetning.

Detaljer
  • Mätområde: 0 ... 500 µm
  • Ingen minsta tjocklek krävs
  • Linearitet: ≤ ±3 µm
  • Repeterbarhet: ≤2 µm
FSC1000-2_400px

FSC1000 används för att bestämma beläggningstjockleken på CFRP och andra substrat. Mätinstrumentet erbjuder ett mätområde på 1000 µm. Till skillnad från andra mätförfaranden krävs ingen minsta tjocklek. Mätningen varar bara i ca. bara 1 sekund. Plastfilmerna med känd tjocklek möjliggör kalibrering av substratmaterialet. Kalibreringsdata kan lagras och laddas senare. Mätdata kan exporteras via USB för vidare bearbetning.

Detaljer
  • Mätområde: 0 ... 1000 µm
  • Ingen minsta tjocklek krävs
  • Linearitet: ≤ ±5 µm
  • Repeterbarhet: ≤4 µm

MICRO-EPSILON SENSOTEST AB
jakob.geisler@micro-epsilon.se
+46 8 564 733 80