Världens största konfokala sensorsortiment kommer att utökas igen

2021-12-07

Konfokalkromatiska sensorer används för avstånds- och tjockleksmätningar där högsta noggrannhet och signalstabilitet krävs. Sensorerna erbjuder toppmodern teknik i kombination med hög mätfrekvens och maximal precision. Nu finns det tre nya modeller.

confocalDT IFS2407-0,8

IFS2407-0,8 är en ny konfokalkromatisk sensor med ett mätområde på 0,8 mm. Denna kompakta modell möjliggör nya användningsområden för positions- och tjockleksmätningar. Kombinerat med en hög upplösning på 24 nm möjliggör sensorn mätning av transparenta lager som glas eller plastfilm med en skikttjocklek från 40 µm. En annan fördel ligger i den stora mätvinkeln upp till +/- 30° (NA 0,5). Kombinerat med mätpunktsdiameter på bara 6 µm detekterar sensorn de finaste strukturerna.

confocalDT IFS2405/90-6

Den konfokalakromatiska sensorn IFS2405/90-6 mäter med hög precision position och tjocklek på diffusa, reflekterande och transparenta material. Den nya 90°-modellen möjliggör mer flexibla installationsalternativ. Om en sensor med en rak mätstråle inte kan användas på grund av monteringsdjupet är 90°-sensorn det platsbesparande alternativet. I krävande miljöer kan sensorn monteras på ett säkert avstånd från mätobjektet tack vare det höga mätavståndet på 41 mm. Därför är IFS2405/90-6 idealisk för mätuppgifter inom glasindustrin och möjliggör högupplösta tjockleksmätningar från en skikttjocklek på 300 µm. Dessutom tål IFS2405-6/90-6 lutningsvinklar upp till ± 10°.

confocalDT IFS2406-3/VAC(001)

Denna sensor är konstruerad för användning under utmanande förhållanden i vakuum. Dess passiva sensordesign säkerställer att ingen värme avges. Tillbehören är också anpassade till dessa speciella tillämpningsförhållanden. Förutom sensorerna erbjuder Micro-Epsilon kablar och tillbehör som är lämpliga för renrum, vakuum och ultrahögt vakuum.

Varför konfokala kromatiska sensorer från Micro-Epsilon?

• Världens snabbaste mätning upp till 70 kHz
• Beröringsfri mätning har ingen inverkan på mätobjektet
• Nanometerupplösning
• Extremt omfattande sensorutbud
• Detektion av de minsta detaljer och strukturer
• Mätning av flera lager är möjligt