Hoppa direkt till huvudnavigeringen Gå direkt till innehållet Hoppa till undernavigering

Halvledare

Mätuppgifter i halvledarindustrin kräver högsta noggrannhet och repeterbarhet. Micro-Epsilon erbjuder lösningar för många applikationer från exakt maskinpositionering och waferinspektion till topografiska mätningar.

3D-formmätning av kiselplattor

reflectCONTROL deflektometri system används för att detektera planheten eller planiteten hos 150 mm skivor. Dessa mäter planheten med bara en bild. För detta ändamål projicerar sensorerna ett randigt mönster på skivan, som spelas in av de…

Läs mer
3D-Formerfassung von Wafern

High precision thickness measurement of silicon wafers

Capacitive displacement sensors are used for the exact thickness measurement of wafers. Two opposing sensors detect the thickness and also determine other parameters such as deflection or sawing marks. The position of the wafer in the measuring…

Läs mer
Hochpräzise Dickenmessung von Silizium-Wafern

Dimensionell inspektion av kiselgöt

Laserprofilskannrar från Micro-Epsilon används för att inspektera geometrin hos kiselgöt. Skanrarna detekterar kiselstavarnas fullständiga geometri. Detta möjliggör bestämning av geometriska avvikelser hos kiselblocket före separering. Göt är…

Läs mer
Dimensionelle Prüfung von Silizium-Ingots

Böjning och varp av skivor

Konfokalkromatiska givare skannar ytan på skivan för att upptäcka böjning, varp och distorsion. Med en hög mätfrekvens möjliggör confocalDT controllers mycket dynamiska mätningar, vilket gör att skivan kan inspekteras inom korta cykeltider. …

Läs mer
Durchbiegung von Wafern

Detektion och mätning av sågmärken

För automatisk detektion och mätning av sågmärken används konfokalkromatiska givare från Micro-Epsilon. Styrenhetens snabba funktion för ytkompensation reglerar exponeringscyklerna för att uppnå maximal signalstabilitet på ytor med olika…

Läs mer
Erkennen und Messen von Sägeriefen

Detektion och mätning av ojämnheter på kiselskivor

Konfokalkromatiska lägesgivare från Micro-Epsilon används för att inspektera ojämnheter. Givarna genererar en liten mätpunkt på skivan och kan tack vare den höga upplösningen detektera de minsta delarna och strukturerna. Därför fastställs…

Läs mer
Erkennung und Vermessung von Bumps auf Siliziumwafern

Bestämma positionen vid hantering av kiselplattor

När kiselplattor hanteras är exakt och repeterbar positionering avgörande. Vid inmatning av skivor inspekterar två optoCONTROL-lasermikrometrar diametern och bestämmer därmed den horisontella positionen. Tack vare hög mäthastighet och noggrannhet…

Läs mer
Lagebestimmung beim Waferhandling

Positionering av masker i litografi

För att litografiprocesser skall uppnå maximal precision krävs hög upplösning och långsiktig stabilitet vid mätning av maskinrörelser. Kapacitiva givare med hög upplösning från Micro-Epsilon möjliggör positionering av masker med…

Läs mer
 Im Lithografieprozess ist eine hochauflösende und langzeitstabile Messung von Maschinenbewegungen erforderlich, um maximale Präzision zu erzielen. Dank der hohen Auflösung ermöglichen kapazitive Sensoren von Micro-Epsilon die nanometergenaue Positionierung der Masken. Vakuumtaugliche Ausführungen der Sensoren und Sensorkabel erlauben den Einsatz bis ins UHV. Zum Produkt capaNCDT 6200 Applikationen Branchen Additive Fertigung

Interferometer med vitt ljus för maskposition inom litografi

Litografiprocesser kräver hög upplösning och långvarig stabil mätning av maskinrörelser för att uppnå maximal precision. Tack vare speciella utvärderingsalgoritmer och aktiv temperaturkompensering möjliggör IMS5400 interferometer med vitt ljus…

Läs mer
Weißlicht-Interferometer zur Masken-Positionierung in der Lithografie

Mätning av transparenta lager och limfog

Konfokalkromatiska givare används för enkelsidiga tjockleksmätningar. Den konfokala mätprincipen möjliggör utvärdering av flera signaler vilket gör det möjligt att bestämma tjockleken på transparenta material. Med multipeak-funktionen bestämmer…

Läs mer
Messung von transparenten Schichten & Kleberaupen

Exakt notch-detektering på glaswafern

Notch-detektering på glaswafern är ett avgörande produktionssteg vid tillverkning av halvledare. Den måste vara absolut exakt för att säkerställa högsta kvalitet och noggrannhet hos de tillverkade halvledarchipsen. De fiberoptiska sensorerna optoCONTROL CLS1000 används för denna högprecisa positionsbestämning.
Läs mer
Precise notch detection on glass wafers

Placera kiselplattor med kapacitiva sensorer

Kapacitiva sensorer används för finpositioneringsuppgifter vid tillverkning av kiselplattorn. Sensorerna mäter position vid olika punkter vilket är särskilt användbart för finjustering. Tack vare sin triaxiella design är sensorerna okänsliga för…

Läs mer
Positionierung der Waferstage mit kapazitiven Sensoren

Positionering av linssystem i litografimaskiner

Induktiva lägesivare (virvelström) mäter beröringsfritt linselementens position för att uppnå högsta möjliga bildnoggrannhet. Beroende på linssystem används lägesgivare från Micro-Epsilon för att detektera rörelse och position i upp till 6…

Läs mer
Positionierung des Linsensystems in Lithografiemaschinen

Positionering med nanometerprecision i litografimaskiner

För att belysa enskilda komponenter på skivan flyttar de litografiska enheterna skivan till respektive position. Kapacitiva lägesgivare mäter färdvägen för att möjliggöra positionering med nanometerprecision. …

Läs mer
Nanometergenaue Positionierung in Lithografiemaschinen

Position av kiselplatta

Beröringsfria givare från Micro-Epsilon används för positionsövervakning av kiselplattor där de mäter mycket dynamiska XYZ-rörelser som accelererar mycket snabbt. Kapacitiva och induktiva givare (virvelström) uppnår nanometerupplösning för att…

Läs mer
Positionierung der Waferstage

Placera kiselplattor med hjälp av interferometrar med vitt ljus

InterferoMETER IMS5600 med vitt ljus från Micro-Epsilon används för lägesövervakning av kiselplattor. Den mäter stegets XYZ-rörelser med extremt höga accelerationer. Det optiska mätsystemet med hög precision uppnår en upplösning inom…

Läs mer
Positionierung der Waferstage mit Weißlichtinterferometern

Kontroll av linshållarens lutningsvinkel

Kapacitiva sensorer mäter linsbärarnas lutningsvinkel med nanometernoggrannhet. Tack vare högprecisionsmätning säkerställs en repeterbar projektion. Flera sensorer mäter på bäraren av metall. Den extremt höga upplösningen möjliggör exakt…

Läs mer
Prüfung der Verkippung von Linsenträgern

Övervakning av linsens inriktning med hjälp av konfokalkromatiska sensorer

Konfokalkromatiska sensorer används för att mäta linsens inriktning. Flera sensorer mäter direkt på linsen för att detektera lutningsvinkeln till nanometernoggrannhet. Till skillnad från elektromagnetiska sensorer mäter konfokala kromatiska…

Läs mer
Überwachung der Ausrichtung von Linsen mit konfokal-chromatischen Sensoren

Inspektion av orienteringsskårorna på kiselgöt

Göt är ofta försedda med orienteringsskåror vilket är nödvändigt för inriktning av göten. Blå laserskannrar från Micro-Epsilon används för att inspektera skårornas profil gällande dimensionell noggrannhet och detekterar skårprofilen med hög…

Läs mer
Prüfung der Orientierungskerben auf Silizium-Ingots

Kontroll av sprickor och brott

Konfokalkromatiska givare från Micro-Epsilon används för att upptäcka sprickor och andra defekter på skivan. Tack vare en snabb funktion för ytkompensation kan ytor med olika reflektionsegenskaper kontrolleras tillförlitligt. En extremt liten…

Läs mer
Überprüfung auf Risse und Abbrüche

Övervakning av axiella rörelser hos interna hålsågar

Interna hålsågar används för kapning av kiselgöt. För att uppnå tillförlitlig separering av götet övervakas sågbladet eller hållaren med virvelströmsensorer. Fyra sensorer mäter beröringsfritt avståndet till sågens stöd. Tack vare det höga…

Läs mer
Überwachung der axialen Bewegung von Innenlochsägen

Övervakning av böjning av trådsågar

Trådsågar används för att skära göt i ett enda steg. Eftersom tråden utsätts för kraftigt slitage övervakas trådbädden vid flera punkter med hjälp av kontaktfria virvelströmsensorer. Sensorerna detekterar inte bara trådhöjden på styrvalsen utan…

Läs mer
Überwachung der Durchbiegung von Drahtsägen

Övervakning av optiska system med hjälp av vågfrontssensorer

Shack-Hartmann vågfrontssensorer från Optocraft mäter inriktning och bildkvalitet för hela det optiska systemet. Den robusta mätprincipen möjliggör maskinintegration och automatiserade mätsekvenser samt analys och övervakning av laserstrålar i…

Läs mer
Überwachung von Optik-Systemen mit Wellenfrontsensoren

Lutningsvinkelmätning av kiselplattor

Kiselplattans exakta position spelar en viktig roll vid hantering av plattorna. Under inmatningen av plattor mäter interferometrar med vitt ljus den vågräta lutningsvinkeln. Två interferometrar mäter på plattan Vitljusinterferometrar från…

Läs mer
Verkippungsmessung von Wafern

Mätning av skivtjocklek/TTV

Konfokalkromatiska givare mäter tjockleksavvikelsen eller tjockleken på skivan från båda sidor. Baserat på skivans tjockleksprofil kan böjning och skevhet av skivan detekteras. Hög mätfrekvens möjliggör tjockleksdetektering av hela skivan under…

Läs mer
Wafer-Dickenmessung / TTV