3D-inspektion av kretskort

Konventionella inspektionssystem som mätmikroskop är inte lämpliga för automatiserade inlinelösningar eftersom inspektionsprocessen tar lång tid och dessa mikroskop är mycket dyra. Därför används 3D-sensorer från Micro-Epsilon för att möjliggöra helautomatisk inline-inspektion av substrat.

3D-snapshotsensorn, surfaceCONTROL 3D 3510, med hög precision mäter direkt i produktionslinjen på underlagets matta yta. Arbetsavståndet är 120 till 140 mm. De registrerade mätvärdena beräknas i sensorn och matas ut till en extern PC via det integrerade gränssnittet Gigabit Ethernet. Ytterligare bearbetning, utvärdering och loggning av 3D-data är möjlig med hjälp av den kraftfulla programvaran 3DInspect.