Exakt tjockleksmätning av planglas och folier

2021-09-28

InterferoMETER IMS5400 finns nu tillgänglig med den nya sensorn IMP-TH70. Detta möjliggör ett stort arbetsavstånd på 70 mm. Samtidigt är ljuspunktsdiametern endast 5 µm. Den ökade lutningsvinkeln på ± 4,5 ° möjliggör stabila mätresultat även på lätt böjda och strukturerade ytor.

Interferometer IMS5400-TH, med vitt ljus, för nanometer-noggrann tjockleksmätning är det mest exakta optiska mätsystemet från Micro-Epsilon, vars robusta struktur gör den idealisk för användning i produktionslinjer. För optimal integration i olika kontroller och produktionsprogram har alla system i den innovativa interferometern med vitt ljus omfattande anslutningsmöjligheter. Dessa inkluderar både digitala gränssnitt som Ethernet/EtherCAT och analog utgång. Hela konfigurationen av styrenheten och sensorerna sker via webbgränssnittet. Det ger användaren en tydlig och enkel driftsättning och parametrering.

Varför interferoMETER IMS5400?

  • Nanometer-noggrann tjockleksmätning, även med fluktuationer i avstånd och vibrerande mätobjekt
  • Stabil mätning från stort avstånd, även av antireflexbehandlade föremål
  • Branschoptimerade sensorer med robust metallhölje och flexibla kablar
  • Mäthastighet upp till 6 kHz för snabba mätningar
  • Ethernet / EtherCAT / RS422

MICRO-EPSILON SENSOTEST AB
jakob.geisler@micro-epsilon.se
+46 8 564 733 80