Ljusintensiva mätningar med hög hastighet av avstånd och tjocklek

2022-06-28

Micro-Epsilon har utvecklat en ny generation konfokala styreheter; confocalDT 2465 (enkanalsversion) och confocalDT 2466 (dubbelkanalsversion). Dessa används vid högprecisionsavståndsmätningar liksom vid synkrona dubbelsidiga tjockleksmätningar av flera lager och av transparenta föremål. Multi-peak-varianten detekterar upp till fem transparenta lager samtidigt. En materialdatabas, där målspecifikationer som brytningsindex kan lagras, finns tillgänglig för tjockleksmätningar.

De nya modellerna kännetecknas av hög ljusintensitet och hastighet. Detta innebär att hela mäthastigheten på upp till 30 kHz kan utnyttjas fullt ut vid mätning på många ytor. Även på mörka och grova ytor erhålls extremt stabila mätsignaler i hög hastighet.

Styrenheterna är kompatibla med samtliga confocalDT-sensorer. Enkel konfiguration är möjlig via webbgränssnittet. Mätdata matas ut via Ethernet, EtherCAT, RS422 och analogt. Utdata via PROFINET och EtherNet/IP är också möjligt men en valfri gränssnittsmodul krävs.

Fördelar

  • Upplösningar ner till nanometerområdet
  • Idealisk för automation och produktionsövervakning
  • Snabb ytkompensering för mätningar på nästan alla material
  • Avstånds- och tjockleksmätningar vid hög hastighet upp till 30 kHz
  • Hög ljusintensitet möjliggör snabba mätningar även på mörka och grova ytor
  • Upp till fem transparenta lager kan mätas samtidigt

MICRO-EPSILON SENSOTEST AB
jakob.geisler@micro-epsilon.se
+46 8 564 733 80