Integrering i applikationsmjukvara
scanCONTROL-sensorerna producerar för varje mätning en 2D-profil av ytan på mätobjektet. Dessa profiler kan sedan överföras till er applikation som en matris av punkter eller sammansatt av flera profiler. Varje profil består av ett antal kalibrerade mätpunkter inklusive tilläggsinformation som intensitet, tidsmarkörer eller räknarinformation. Förutom dataöverföringen kan hela konfigurationen av sensorn göras från applikationen.
Dataöverföringen och sensorkonfigurationen kan utföras på olika sätt:
ScanCONTROL Developer Tool är utformad för att hjälpa utvecklare att integrera scanCONTROL-sensorerna i sin egen applikation baserad på scanCONTROL SDK (LLT.DLL):
- Komplett integrationsexempel med källkod
- MouseOver-funktion för skannerparametrarna visar den tillhörande DLL-funktionen
- Läs- och skrivåtkomst till sensorregistren
- Visualisering av alla tillgängliga överföringslägen för skannerdata
scanCONTROL C/C++ biblioteket supportar både dynamisk som statisk laddning och supportar stdcall och cdecl som standard call conventions. Alla funktioner är beskrivna i detalj i den bifogade interface dokumentationen. scanCONTROL C/C++ SDK inkluderar också många programmeringsexempel.
Integrationsmodulen scanCONTROL C/C++ SDK inkluderar:
- Bibliotek LLT.DLL
- Interface och scanCONTROL dokumentation
- Programmeringsexempel för C++ (e.g. triggning av sensor, container modus)
- Programmeringsexempel för C#, Python och VB .NET
Integrering i Linux görs genom användning av ett Open Source C bibliotek som har utökats med några viktiga funktioner för scanCONTROL. Ett ytterligare C++-bibliotek möjliggör snabb integration av givaren till en användarvänlig API.
Biblioteket baseras på GeniCam-standard vilket gör att givaren kan styras via antingen GeniCam-kommandon eller direkt via kontrollparametrarna listade i dokumentationen. För att underlätta för operatören finns exempelprogam tillgängliga (exempelvis programmering för trigger, container mode etc). Användning på ARM-inbyggd PC (exempelvis Raspberry Pi) är möjligt med vissa begränsningar.
scanCONTROL instrument driver LabVIEW supportar snabb integration av scanCONTROL- sensorerna till National Instruments LabVIEW. För åtkomst av scanCONTROL- sensor och dess grundinställningar kan man dra- och droppa moduler direkt från funktionspaletten in till er VI. VI exempel illustrerande scanCONTROL integration ingår också i detta paket.
Integrationen av scanCONTROL- sensorer är baserade på Micro-Epsilons C/C++ bibliotek (LLT.DLL). Den detaljerade dokumentationen visar också hur man sätter upp ytterligare special sensor parametrar.
scanCONTROL instrument driver för LabVIEW:
- Utvecklad enl. National Instruments LabVIEW instrument driver guidelines
- Stöder LabVIEW 2012 och högre
- Inkluderar instrumentdrivers för 32-Bit och 64-Bit
- Snabb och enkel åtkomst till alla inställningar via funktionspaletten
- Stöd för FireWire- och Ethernet- interface
- VI exempel
- Detaljerad dokumentation på hur man integrerar scanCONTROL sensorer till LabVIEW
Varje scanCONTROL-givare kompileras med GigE Vision Standard (Gigabit Ethernet for Machine Vision) av AIA (Automated Imaging Association).
Standarden används i stor utsträckning inom bildbehandlingsindustrin och stöds därför av alla konventionella visionverktyg och garanterar snabb och enkel integration i olika programvaror för bildbehandling – även för 3D utvärdering
GigE Vision säkerställer optimal datasäkerhet, perfekt prestanda och kort tid för integration vid implementering. GigE Vision baseras på Gigabit Ethernet och erbjuder maximal överföringshastighet. Ethernet erbjuder fördelar som långa kabellängder utan att använda repeaters/hubbar och tillåter användning av kostnadseffektiva nätverkskomponenter. Standarden GigE Vision tillhandahåller en öppen struktur för dataöverföring (t.ex. profiler, data sets) och styrsignaler mellan laserskannern och en dator. Nätverkstopologin erbjuder många möjligheter till enkla och multipla skannerapplikationer.
The new scanCONTROL AIK adapter provides a fast integration in Cognex VisionPro via the Cognex AIK server. It combines the advantages of the Cognex VisionPro environment to generate fast and reliable applications with the advantages of native scanCONTROL integration.
The AIK adapter can be used to generate Cognex Range Images out of scanCONTROL’s measurement points to process it comfortably with the Vision Pro algorithms. Beyond that, all well-known configuration options of the scanCONTROL sensors are available.
To get a quick start, the scanCONTROL AIK adapter comprises an elaborate documentation for all sensor settings and the necessary configuration steps in Cognex Vision Pro.
