Nya optoNCDT ILR1041-150 möjliggör tillförlitlig avståndsmätning upp till 150 m. Time-of-Flight-tekniken ger stabila mätresultat även vid varierande ytor, mörka material och starkt omgivningsljus. Integrerad IO-Link och kompakt, robust konstruktion…

Vid inline-mätning av wafers är installationsutrymmet ofta begränsat samtidigt som sensorn måste klara en krävande processmiljö. IMP-NIR-TH3/90/IP68 kombinerar 90° strålgång med IP68-skydd och integrerad friblåsning. Det möjliggör exakt…

I många applikationer inom automation krävs snabb och exakt inline-mätning – till exempel vid kontroll av diameter, spalter eller positioner i löpande produktion. optoCONTROL 2700 är en kompakt LED-mikrometer som levererar hög precision även vid höga…

