Vibrerande mätobjekt utgör en särskild utmaning inom optisk mätteknik: På grund av den ständiga rörelsen ändras mätobjektets position under detekteringen, vilket kan leda till suddiga eller felaktiga resultat. Lasern kan bli suddig av rörelsen eller avledas från mätobjektet, vilket gör att retursignalen förlorar i precision eller helt uteblir.

De optiska precisionsmikrometrarna i optoCONTROL 2700-serien från Micro-Epsilon är speciellt utformade för sådana dynamiska mätuppgifter. Med en avkänningshastighet på 15 kHz och en extremt kort exponeringstid på bara 8,5 µs detekterar de även vibrerande eller snabbrörliga föremål på ett tillförlitligt sätt och med hög precision.

Lutningskorrigering i realtid Mottagarens bildmatris registrerar den exakta inriktningen och därmed vinkeln på objektet i ljusstrålen via primärlinjen och sekundärlinjen. Den interna kontrollern justerar automatiskt mätvärdet efter mätobjektets lutning. Detta innebär att det exakta mätvärdet matas ut och att inga mätvärdesfel uppstår. Lutningskorrigeringen gäller för hela mäthastigheten och kan användas i mätprogrammen för ytterdiameter, banans kant och konturmätning.

Med optoCONTROL 2700 kan typiska mätvariabler som diameter, spaltbredd, kantposition eller segmentlängd bestämmas exakt även vid höga produktionshastigheter, till exempel vid inline-kvalitetssäkring eller maskinövervakning. Systemet finns tillgängligt i mätområden på 10 mm och 40 mm. En särskild höjdpunkt är kontrollern som är integrerad i mottagaren, vilket minskar arbetsbehovet för kabeldragning och montering eftersom det inte krävs någon extern kontroller. Precisionsmikrometern matar ut mätvärdena via det integrerade webbgränssnittet och de digitala gränssnitten.