Multisegmentmätning på supraledande band
Tillverkningen av supraledande band för kraftapplikationer ställer extremt höga krav på precision och materialskydd. Under processen bearbetas 12 mm breda rostfria stålband med nickellegering och skärs i flera smala delband, till exempel 3–4 mm breda segment separerade av endast 0,5 mm mellanrum. Eftersom banden är belagda med känsliga PVD-skikt måste alla mätningar av bredd och segment utföras helt kontaktlöst och med mycket hög noggrannhet.
Kvalitetskontroll i realtid för maximal processäkerhet
Med optoCONTROL 2700-40 från Micro-Epsilon kan både totala bredden och bredden på enskilda segment mätas omedelbart efter skärning, direkt i produktionslinjen. Det kontinuerliga bandet med en total bredd på 12 mm registreras i den optiska mikrometerns mätfält, där systemets ”Multisegment”-funktion möjliggör samtidig detektering av segment och mellanrum med hög precision. Mätresultaten överförs i realtid till anläggningsstyrningen, vilket gör det möjligt att automatiskt justera processen.
Maximal precision med minimalt spill
De optiska precisionsmikrometrarna i optoCONTROL-serien erbjuder flera avgörande fördelar för krävande skär- och beläggningsprocesser:
- Kontaktlös mätprincip: De känsliga nickel- och PVD-beläggningarna påverkas inte mekaniskt – ingen risk för repor, deformation eller slitage.
- Extrem noggrannhet: Upplösning på 10 nm och repeterbarhet på ≤ 0,1 µm gör det möjligt att detektera även mycket smala segment med hög tillförlitlighet.
- Hög mäthastighet: Med en mätfrekvens på 5 kHz möjliggörs kontinuerlig övervakning av rörliga band i realtid.
- Flexibel integration: Kompatibel med gränssnitt som EtherCAT, PROFINET, Ethernet/IP och analoga signaler för sömlös anslutning till befintliga produktionssystem.
Resultatet är maximal processäkerhet, minimal kassation och optimerad produktkvalitet – även i de mest krävande tillämpningarna.

























































































































