Vitljusinterferometer för stabil tjockleksmätning med submikrometernoggrannhet
Den nya vitljusinterferometern IMS5200-TH öppnar upp nya möjligheter för snabb och stabil tjockleksmätning. Kontrollern har en intelligent utvärdering och möjliggör exakt tjockleksmätning av transparenta skikt från 1 µm. Tack vare den höga mätfrekvensen på upp till 24 kHz lämpar sig IMS5200-modellerna utmärkt för industriellt bruk.
Speciella egenskaper
- Mätfrekvens upp till 24 kHz för snabba och stabila mätningar
- Enkel integration tack vare stort arbetsområde
- Exakt skikttjockleksmätning: 1 µm till 100 µm
- Multi-Peak: Möjlighet till flerskiktsmätning av upp till 5 skikt
- Industrioptimerad sensor med robust metallhölje
- Kan användas i vakuum
- Enkel konfiguration via webbgränssnitt
Stabil tjockleksmätning med varierande mätavstånd
IMS5200-TH-vitljusinterferometer används för tjockleksmätningar med hög precision. En avgörande fördel här är den avståndsoberoende mätningen, där ett tjockleksvärde med nanometernoggrannhet uppnås även med rörliga objekt. Mätområdet på 1 till 100 µm gör det möjligt att mäta tunna transparenta skikt och filmer.
Tjockleksmätning av flera skikt
Med Multi-Peak-kontroller-varianten kan flera signaltoppar analyseras samtidigt. Detta möjliggör tjockleksmätning av flera skikt på transparenta objekt eller laminerat glas. Kontrollern matar ut tjockleksvärdena med maximal stabilitet oavsett deras position.
Idealisk för industriella miljöer
Den robusta sensorn och kontrollern i metallhöljet gör systemet idealiskt för integration i produktionslinjer. Tack vare den kompakta sensorkonstruktionen och det stora arbetsområdet är sensorn enkel att integrera och ger stabila mätresultat även vid vibrationer. Kontrollern kan installeras i kontrollskåpet med hjälp av montering på DIN-skena. Kabellängder på upp till 10 m gör att sensorn och kontrollern kan vara fysiskt åtskilda. Idrifttagning och parametrering sker enkelt via webbgränssnittet och kräver ingen installation av mjukvara.
Ett stort antal modeller för anspråksfulla mätuppgifter
| Modell | Mätområde/mätområdets start | Linjäritet | Antal mätbara skikt | Användningsområden |
|---|---|---|---|---|
| IMS5200-TH26 | 26 mm ±2 mm/1 µm bis 100 µm | < 1 nm | 1 skikt | Snabb, stabil inline-mätning av tunna transparenta skikt: t.ex. beläggningar på filmer och glas |
| IMS5200-TH26/VAC | ||||
| IMS5200MP-TH26 | Upp till 5 skikt |