För automatiserad kvalitetskontroll räcker det inte alltid att samla in 3D-data. Informationen behöver också kunna bearbetas, analyseras och användas effektivt i produktionsprocessen. Med 3DInspect 3.1 utökar Micro-Epsilon funktionerna för mätning, databearbetning och automatiserad utvärdering. Programvaran stöder reflectCONTROL RCS, surfaceCONTROL 3D, scanCONTROL 30xx/8x00 samt 3D Profile Unit via GenICam/GigE Vision.
Nya funktioner för 2D- och 3D-mätning
Version 3.1 innehåller nya mätprogram för bland annat planhet, sfäriskhet och identifiering av hålgeometrier. För 2D-data tillkommer exempelvis rakhetsmätning. Det finns även nya funktioner för att skapa och sammanfoga punktmoln, reducera datamängder samt maskera och filtrera 2D-bilder. Det ger användaren fler möjligheter att anpassa analysen efter komponentens geometri och de kvalitetsparametrar som ska kontrolleras.
Utökat stöd för sensorer och bildanalys
3DInspect 3.1 stöder nu scanCONTROL 8x00 SMART i både 2D- och 3D-läge, inklusive en guide för konfigurering. För reflectCONTROL och surfaceCONTROL introduceras även dataformatet 2D-View, som gör det möjligt att analysera amplitud-, kröknings- och intensitetsbilder med bildbehandlingsfunktioner. Det breddar möjligheterna att analysera komplexa ytor och geometrier med samma programvara.
Effektivare arbetsflöden vid industriell mätning
Flera mätprogram har optimerats för snabbare utvärdering. Dessutom har observationsläget utökats och flera dataformat kan nu sparas automatiskt för varje mätning. För sensorer som stöder funktionen kan även 3D-mätningar avslutas i förtid.
Tillsammans med förbättrad dataförbehandling och tydligare 2D- och 3D-vyer ger detta ett mer effektivt arbetsflöde, från mätning till färdigt kontrollresultat.